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        直讀光譜儀射線強度的影響因素

        返回列表查看手機網址來源:東方分析儀器 發布日期:2022-03-03 14:04:05 瀏覽:

        對直讀光譜儀射線強度有影響的因素是什么呢?直讀光譜儀的定量分析是以熒光x光線的強度為根據的,影響光譜儀射線強度的因素會影響分析的精確度,以下是主要兩大影響因素:

        一、基體效應

        基體效應包含吸收效應及加強效應。

        吸收效應包含基材對入射x光線的吸收及對熒光x光線的吸收。由于用射線激發試品時,不只是作用于試品表層并且能穿透相應的厚度進入試品里面,并且試品里面分析元素形成的熒光x光線,也必須穿過相應厚度的試品才可以射出。在穿透過程中,這二種x光線都會因基材元素的吸收而使射線強度減弱,射線減弱會影響對分析元素的激發效率。

        假如入射x光線使基材元素激發所形成的熒光x光線的波長略短于分析元素的吸收邊,它會使分析元素形成二次熒光x光線,進而使分析元素的熒光x光線強度加強,這就是基材的加強效應。

        假如吸收效應占主導作用,則分析結果稍低,假如加強效應占主導作用,則分析結果較高。

        直讀光譜儀

        二、不均勻效應

        不均勻效應就是指試品顆粒大小不均勻及試品表層光潔度對熒光x光線強度的影響。對粉末試品,大顆粒吸收效應強,小顆粒吸收效應弱,因而,要求顆粒粒度盡可能小一些,以減少對x光線的吸收。測短波x光線時,要求粒度在250目以上,測量波長超過0.2nm的長波x射線時,則粒度要求在400目以上。

        固體塊狀試樣一定要磨平拋光,粉末試樣要壓緊并使表層平滑。粗糙表層會使熒光x光線的強度明顯下降。測量短波x光線時,光潔度在1005m左右,測量長波x光線時,光潔度為20-50Mm。

        沒有了!

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